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產(chǎn)品展示

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OMS材料物理光學(xué)屬性測(cè)量?jī)x

產(chǎn)品型號(hào):ANSYS OMS

類   型:

光學(xué)屬性測(cè)量?jī)x

描   述:

光學(xué)測(cè)試系統(tǒng)用于測(cè)量光學(xué)材料表面BRDF光學(xué)屬性以及材料體光學(xué)屬性,通過采集材料屬性,測(cè)量出的數(shù)據(jù)經(jīng)過OMS2數(shù)據(jù)處理軟件的擬合,得出.BRDF格式的文件,這些文件都攜帶了材料的表面光學(xué)屬性和體光學(xué)屬性。

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(表面光學(xué)材質(zhì)掃描儀/ANSYS 光學(xué)測(cè)量系統(tǒng)/OMS2材料物理光學(xué)屬性BRDF測(cè)量?jī)x)

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  1. 系統(tǒng)概述

ANSYS光學(xué)測(cè)試系統(tǒng)用于測(cè)量光學(xué)材料表面BRDF光學(xué)屬性以及材料體光學(xué)屬性,通過采集材料屬性,測(cè)量出的數(shù)據(jù)經(jīng)過OMS2數(shù)據(jù)處理軟件的擬合,得出.BRDF格式的文件,這些文件都攜帶了材料的表面光學(xué)屬性和體光學(xué)屬性。這些數(shù)據(jù)文件可在OMS2支持軟件中直接讀取,在OMS2支持軟件的協(xié)助下完成雜散光仿真分析處理。以虛擬方式輕松管理材料樣本,從而實(shí)時(shí)實(shí)現(xiàn)多種色彩和裁剪選項(xiàng)、變化和關(guān)聯(lián)。國(guó)內(nèi)外用戶有拜爾材料、洛克希德馬丁、NASA、三星、LG、航天508所、中航工業(yè)上海航空電器有限公司等。

  1. 系統(tǒng)原理

雙向反射分布函數(shù)(Bidirectional Reflection distribution function, BSDF)是研究物體表面粗糙度之光學(xué)性質(zhì)。由于物體表面上有凹凸不平的微小表面,一束入射光線射到表面而產(chǎn)生反射現(xiàn)象,用BRDF來表示這種反射(散射)現(xiàn)象。其中雙向(Bidirectional)系指入射光與接受散射光的方向,因不同的入射光角度所產(chǎn)生的散射性質(zhì)亦不相同。BRDF 主要應(yīng)用在計(jì)算機(jī)仿真物體表面明亮度,與真實(shí)人眼所看物體之明亮度相符;另外可應(yīng)用在背光模塊之光學(xué)模擬,例如擴(kuò)散膜之散射性質(zhì)。

ANSYS光學(xué)測(cè)試系統(tǒng)可獲得測(cè)量、提取材料在可見光以及近紅外波段的光學(xué)屬性,具體測(cè)量波段是400nm - 670nm。

  1. 系統(tǒng)特點(diǎn)

以往裝備研制過程當(dāng)中,無(wú)法獲得精確有效的可見光以及近紅外材料的光學(xué)屬性。在以往研制過程中,在系統(tǒng)雜散光分析階段,使用軟件分析時(shí),使用的材料光學(xué)屬性數(shù)據(jù)是憑項(xiàng)目參與者人眼觀測(cè)以及以往經(jīng)驗(yàn)設(shè)定,存在數(shù)據(jù)不精確的問題,對(duì)雜散光分析的精確性構(gòu)成了很大的干擾,加上雜散光仿真分析處理手段有限。一直以來存在系統(tǒng)內(nèi)雜散光來源不明的情況。

ANSYS光學(xué)測(cè)試系統(tǒng)對(duì)于未來系統(tǒng)研制可解決的問題:

(1)為軟件模擬分析雜散光提供精確的數(shù)據(jù)支持;

(2)為今后的各型號(hào)項(xiàng)目以及科研提供大量寶貴的數(shù)據(jù)。

通過測(cè)量平臺(tái)建設(shè),可進(jìn)行系統(tǒng)的、精確的雜散光的分析,是未來系統(tǒng)研制的有利保證。

四、系統(tǒng)功能

掃描材料和光源,并用軟件創(chuàng)建可視化原型:借助這款便攜、輕便的光學(xué)測(cè)量設(shè)備,可以快速、輕松地掃描材料并測(cè)量其屬性。可以掃描現(xiàn)有物體和表面,如涂層、彩繪表面、汽車、火車和飛機(jī)駕駛艙、客艙、建筑物、家具等。

在數(shù)字環(huán)境中采集高端材料的真實(shí)外觀:借助實(shí)驗(yàn)室光學(xué)測(cè)量設(shè)備,可以通過數(shù)字格式來測(cè)量材料的物理外觀,從而在虛擬世界中塑造材料的真實(shí)體驗(yàn)。實(shí)驗(yàn)室光學(xué)測(cè)量設(shè)備可測(cè)量并存儲(chǔ)真實(shí)材料的外觀特點(diǎn),其中甚至包括皮膚、毛發(fā)、液體和半透明材料。憑借超高的108動(dòng)態(tài)范圍,本系統(tǒng)可精確采集材料在各種照明場(chǎng)景下的獨(dú)特外觀變化,從而在3D渲染軟件中實(shí)現(xiàn)卓越的真實(shí)感。此外,還可在整個(gè)產(chǎn)品設(shè)計(jì)流程中共享數(shù)字樣本。憑借其出色的精確度,實(shí)驗(yàn)室光學(xué)測(cè)量設(shè)備已成為備受生產(chǎn)線和實(shí)驗(yàn)室青睞的質(zhì)量控制工具。

測(cè)量結(jié)果:材料表面光學(xué)屬性BRDF

a. 材料BRDF點(diǎn)陣數(shù)據(jù)

在使用OMS2測(cè)量材料時(shí),儀器中的光電倍增管(PMT)在2π空間內(nèi)接受樣品反射以及透射的光能量數(shù)據(jù),因此測(cè)量后會(huì)得到離散型的點(diǎn)陣數(shù)據(jù)。

b. 材料BRDF文件數(shù)據(jù)

離散型數(shù)據(jù)直接被使用于軟件仿真并不精確,所以所得的離散型數(shù)據(jù)必須經(jīng)過數(shù)據(jù)處理才可使用,OMS2系統(tǒng)的工作站中帶有由OPTIS研發(fā)出來的數(shù)據(jù)處理系統(tǒng),經(jīng)過OMS2數(shù)據(jù)處理軟件的數(shù)據(jù)擬合、處理可得出精確的可直接使用.BRDF格式的文件

結(jié)果中可以查看光的不同入射角度,以及不同波長(zhǎng)時(shí),光在材料表面反射、吸收的參數(shù),并且還可查看反射的光型。

OMS2數(shù)據(jù)處理軟件:OMS2數(shù)據(jù)處理軟件內(nèi)含有OPTIS大量材料屬性數(shù)據(jù)庫(kù),可對(duì)采集到的離散型數(shù)據(jù)進(jìn)行處理擬合,生成.BSDF格式的材料面光學(xué)屬性文件,以及.Material格式的材料體光學(xué)屬性文件。生成的材料光學(xué)屬性文件可在OMS2支持軟件中使用。

OMS_head_header.jpg

OMS2材料物理光學(xué)屬性BRDF測(cè)量?jī)x,用于測(cè)量光學(xué)材料表面BRDF光學(xué)屬性以及材料體光學(xué)屬性,測(cè)量出的數(shù)據(jù)經(jīng)過OMS2數(shù)據(jù)處理軟件的擬合,得出.BRDF格式的文件,這些文件都攜帶了材料的表面光學(xué)屬性和體光學(xué)屬性。這些數(shù)據(jù)文件可在OMS2支持軟件中直接讀取,在OMS2支持軟件的協(xié)助下完成雜散光仿真分析處理。國(guó)內(nèi)外用戶有拜爾材料、洛克希德馬丁、NASA、三星、LG、航天508所、中航工業(yè)上海航空電器有限公司等。

 

設(shè)備組成

OMS2材料BRDF光學(xué)屬性高精測(cè)量系統(tǒng)由OMS2測(cè)量?jī)x、數(shù)據(jù)處理工作站、OMS4數(shù)據(jù)處理軟件。

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注:B2DF的解釋

雙向反射分布函數(shù)(Bidirectional Reflectiondistribution function, BSDF)是研究物體表面粗糙度之光學(xué)性質(zhì)。由于物體表面上有凹凸不平的微小表面,一束入射光線射到表面而產(chǎn)生反射現(xiàn)象,用BRDF 來表示這種反射(散射)現(xiàn)象。其中雙向(Bidirectional)系指入射光與接受散射光的方向,因不同的入射光角度所產(chǎn)生的散射性質(zhì)亦不相同。BRDF 主要應(yīng)用在計(jì)算機(jī)仿真物體表面明亮度,與真實(shí)人眼所看物體之明亮度相符;另外可應(yīng)用在背光模塊之光學(xué)模擬,例如擴(kuò)散膜之散射性質(zhì)。

測(cè)量波段

   OMS2測(cè)量系統(tǒng)可獲得測(cè)量、提取材料在可見光以及近紅外波段的光學(xué)屬性,具體測(cè)量波段是400nm670nm

測(cè)量結(jié)果

1)材料表面光學(xué)屬性BRDF

a. 材料BRDF點(diǎn)陣數(shù)據(jù)

在使用OMS2測(cè)量材料時(shí),儀器中的光電倍增管(PMT)在2π空間內(nèi)接受樣品反射以及透射的光能量數(shù)據(jù),因此測(cè)量后會(huì)得到離散型的點(diǎn)陣數(shù)據(jù)。

 

b. 材料BRDF文件數(shù)據(jù)

離散型數(shù)據(jù)直接被使用于軟件仿真并不精確,所以所得的離散型數(shù)據(jù)必須經(jīng)過數(shù)據(jù)處理才可使用,OMS2系統(tǒng)的工作站中帶有由OPTIS研發(fā)出來的數(shù)據(jù)處理系統(tǒng),經(jīng)過OMS2數(shù)據(jù)處理軟件的數(shù)據(jù)擬合、處理可得出精確的可直接使用.BRDF格式的文件

結(jié)果中可以查看光的不同入射角度,以及不同波長(zhǎng)時(shí),光在材料表面反射、吸收的參數(shù),并且還可查看反射的光型。

OMS2數(shù)據(jù)處理軟件

OMS2數(shù)據(jù)處理軟件內(nèi)含有OPTIS大量材料屬性數(shù)據(jù)庫(kù),可對(duì)采集到的離散型數(shù)據(jù)進(jìn)行處理擬合,生成.BSDF格式的材料面光學(xué)屬性文件,以及.Material格式的材料體光學(xué)屬性文件。生成的材料光學(xué)屬性文件可在OMS2支持軟件中使用。

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